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　　電感耦合等離子體光譜儀廠家今天為您介紹直讀光譜儀元素板電路，我們一起來(lái)了解一下吧。

　　保護(hù)電路

　　集成塊U3以及其他通道相當(dāng)?shù)募�成電路，都可能�?huì)由于過(guò)電壓而被損傷。因此，R1、D17、C17組成一籍位電路。任何一個(gè)元素輸入通道的電壓，超過(guò)6.2V時(shí)，將通過(guò)D17穩(wěn)壓二極管而接地，對(duì)于第一個(gè)通道，D1將電容器連到籍位器上，板上其他通道，則利用D2直至D16連接到相同的各自籍位電路上。

　　積分電容充電過(guò)程

　　由光電倍增管PMT產(chǎn)生的光電流，通過(guò)P2-A6端經(jīng)由電阻RN1-1，向電容器C1充電，事實(shí)上，系統(tǒng)需要從C1上零電位啟動(dòng)。雖然PMT在預(yù)燃時(shí)間內(nèi)也產(chǎn)生漏電流，但U19的“A”、“B”模擬開(kāi)關(guān)SW01處閉合狀態(tài)，使光電流短路接地。Ul9的“A”開(kāi)關(guān)由Pl-C6控制(DO位)，U19的“B”開(kāi)關(guān)由P1-AC28控制(DIDCHAGE——放電控制)，當(dāng)處于“控制”階段時(shí)，U19的“A”、“B”開(kāi)路，此時(shí)可允許PMT光電流向電容C1充電。光電流可由以下各因素決定：(1)樣品中元素的含量;(2)PMT加速極電壓;(3)激發(fā)條件。

　　如增加曝光時(shí)間，會(huì)影響C1的充電，正如前面提到，如果C1電容器上充電過(guò)量，可能會(huì)損壞跟隨器。再如，送到測(cè)量板和A/D轉(zhuǎn)換器上的電壓超過(guò)5V時(shí)，也有損壞現(xiàn)象。

　　為防止超過(guò)極限，在曝光時(shí)間內(nèi)，每秒鐘對(duì)每個(gè)元素電容器采集25次。當(dāng)電壓達(dá)到2.5V時(shí)(閥值電壓)，測(cè)量板信號(hào)傳送給計(jì)算機(jī)讓存儲(chǔ)電容器即放電。如果曝光繼續(xù)進(jìn)行，電容器再次被充電，一直重復(fù)此過(guò)程。因此，對(duì)某些高含量元素，在一個(gè)曝光周期，電容器可以放電數(shù)次。對(duì)含量非常低的元素，則可能達(dá)不到閥值電壓(2.5V)。積分電壓經(jīng)U27(Mux-16芯片)28端TRANSFER VOLT經(jīng)P2-AC22端加到MB板進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換。

　　元素通道的確認(rèn)

　　元素通道的選擇是根據(jù)用戶對(duì)材質(zhì)分析的要求提出的，光電光譜儀生產(chǎn)廠家在出廠前

　　將元素通道裝配，并且提供用戶元素通道排列表，用戶可以根據(jù)自己提出的分析元素的通道和含量范圍在安裝調(diào)試階段進(jìn)行確認(rèn)。

　　光譜儀的元素通道稱硬件排列順序。一旦硬件順序輸入計(jì)算機(jī)分析軟件之后，可做不需要新故址�！蹦闵�通造和問(wèn)題，需要改變，或高壓并關(guān)電路某一通道出故障而改接到另外一通道。這需要打開(kāi)光學(xué)室，改接電纜和改變分析程序中元素通道程序。